Oberflächenelektronenmikroskopie - cle031.com
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Die nach der Anzahl von installierten Geräten häufigsten Elektronenmikroskope sind die REM/SEM, gefolgt von TEM. Noch weniger findet man STEM, wobei besonders in den seit etwa Mitte der 1990er Jahre entwickelten TEM-Geräten aber häufig der STEM. Parallel zur Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie, bei der eine Abbildung von Oberflächen nur mittelbar durch Anwendung der Abdruck- bzw. Dekorationstechnik möglich ist, werden in. Oberflächen-Elektronenmikroskopie von anwendungsrelevanten Materialien für heterogene Katalyse, III-V-Heteroepitaxie und polykristalline Werkstoffe Benjamin Borkenhagen ISBN: 9783869482392 Kostenloser Versand für alle Bücher mit Versand und Verkauf duch Amazon. Oberflächen-Elektronenmikroskopie von anwendungsrelevanten Materialien für heterogene Katalyse, III-V-Heteroepitaxie und polykristalline Werkstoffe Subject Clausthal-Zellerfeld, Papierflieger-Verl., 2012.

60 Physik Journal 8 2009 Nr. 6 © 2009 Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim TAGUNGEN Physikzentrum Bad Honnef Das vollständige Veranstaltungs Thu, 02-07-2009, 18:30 Uhr Von Berlin nach Berlin: Oberflächenelektronenmikroskopie. Prof$1.Dr. Ernst Bauer Department of Physics, Arizona State University, Tempe.

Als Rasterelektronenmikroskop REM englisch scanning electron microscope, SEM bezeichnet man ein Elektronenmikroskop, bei dem ein Elektronenstrahl in einem bestimmten Muster über das vergrößert abzubildende Objekt geführt gerastert wird und Wechselwirkungen der Elektronen mit dem Objekt zur Erzeugung eines Bildes des Objekts genutzt. Datum: Do, 02.07.2009 18:30 – Do, 02.07.2009 19:30 Sprecher: Prof$1.Dr. Ernst Bauer, Arizona State University, Tempe, Arizona, USA.

L. Kujawinski Ersthelfer, Brandschutz- und Evakuierungshelfer Raum: MF 271 Telefon: 49 203 379 1538 lukas.kujawinski[at]uni-: Dipl. Phys.-Ing. H. Wolf. 2PPE PEEM Aufnahme des Fokuspunktes eines Fresnel-Gitterkopplers. Nach Anregung des Gitterkopplers mit femtosekunden Laserpulsen laufen Oberflächenplasmon-Polaritonen auf den Fokuspunkt zu, wo sie konstruktiv interferieren. Zusammenfassung. Anfang der dreißiger Jahre entdeckten zwei Forschergruppen in Berlin, dass Oberflächen nicht nur mit Licht abgebildet werden können, sondern auch mit Elektronen, die durch Licht oder durch Heizen von der Oberfläche ausgelöst werden.

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